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		<title>ASME B 46.1 (1995) - Versionsgeschichte</title>
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		<updated>2026-05-06T13:48:38Z</updated>
		<subtitle>Versionsgeschichte dieser Seite in Wiki der Zukunftswerkstatt Jena</subtitle>
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		<id>https://zw-wiki.de/index.php?title=ASME_B_46.1_(1995)&amp;diff=755&amp;oldid=prev</id>
		<title>Annette: Die Seite wurde neu angelegt: „ASME B 46.1 (1995-00-00) -Oberflächentextur (Oberflächenrauheit, -welligkeit und -struktur) (Surface texture (surface roughness, waviness, and lay))  The Americ…“</title>
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				<updated>2012-06-27T11:53:52Z</updated>
		
		<summary type="html">&lt;p&gt;Die Seite wurde neu angelegt: „ASME B 46.1 (1995-00-00) -Oberflächentextur (Oberflächenrauheit, -welligkeit und -struktur) (Surface texture (surface roughness, waviness, and lay))  The Americ…“&lt;/p&gt;
&lt;p&gt;&lt;b&gt;Neue Seite&lt;/b&gt;&lt;/p&gt;&lt;div&gt;ASME B 46.1 (1995-00-00) -Oberflächentextur (Oberflächenrauheit, -welligkeit und -struktur)&lt;br /&gt;
(Surface texture (surface roughness, waviness, and lay))&lt;br /&gt;
&lt;br /&gt;
The American Society of Mechanical Engineers&lt;br /&gt;
&lt;br /&gt;
Bemerkungen:&lt;br /&gt;
&lt;br /&gt;
Die Norm beinhaltet Festlegungen zu Definitionen und Begriffen (auch für die Bestimmung von Flächenparametern).&lt;br /&gt;
Es wird eine Klassifikation von Messgeräten: Kontaktprofilometer mit mechanischen&lt;br /&gt;
Sensoren, Nonkontaktprofilometer mit optischen oder elektrischen Sensoren, Mikroskope mit&lt;br /&gt;
scannenden Sonden (STM, AFM) und oberflächenintegrierende Verfahren (Streuverfahren) gegeben.&lt;br /&gt;
Die Terminologie und Messprozeduren werden aber nur für die mechanische Kontaktprofilometrie&lt;br /&gt;
beschrieben. Für alle anderen Verfahren gibt es in diesem Dokument noch keine Beschreibung. Die&lt;br /&gt;
Messtechniken für die Flächenprofilierung werden ebenfalls nur sehr kurz erläutert. Weiterhin werden&lt;br /&gt;
Angaben zur Methodik der Filterung von Oberflächenprofilen, der Präzision von Referenzproben und&lt;br /&gt;
Rauheitsvergleichsproben gemacht.&lt;br /&gt;
Informationen zu bisher nicht genormten optischen Verfahren (Zwei- und Mehrstrahlinterferometer,&lt;br /&gt;
differentieller Interferenzkontrast (Normarski-Kontrast), differentielle Interferometrie, fokussierende&lt;br /&gt;
optische Systeme), elektronenoptischen Verfahren (TEM, SEM) und zu scannenden Systemen&lt;br /&gt;
(STM, AFM) werden gegeben.&lt;br /&gt;
&lt;br /&gt;
In ANSI/ASME B 46.1 (2002-00-00) sollen 3 Kapitel und ein Anhang überarbeitet worden sein. Das&lt;br /&gt;
Dokument steht aber zur Zeit noch nicht zur Verfügung.&lt;br /&gt;
&lt;br /&gt;
&amp;#039;&amp;#039;(ev. unaktuell...)&amp;#039;&amp;#039;&lt;/div&gt;</summary>
		<author><name>Annette</name></author>	</entry>

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