Quelltext der Seite ASME B 46.1 (1995)

ASME B 46.1 (1995-00-00) -Oberflächentextur (Oberflächenrauheit, -welligkeit und -struktur)
(Surface texture (surface roughness, waviness, and lay))

The American Society of Mechanical Engineers

Bemerkungen:

Die Norm beinhaltet Festlegungen zu Definitionen und Begriffen (auch für die Bestimmung von Flächenparametern).
Es wird eine Klassifikation von Messgeräten: Kontaktprofilometer mit mechanischen
Sensoren, Nonkontaktprofilometer mit optischen oder elektrischen Sensoren, Mikroskope mit
scannenden Sonden (STM, AFM) und oberflächenintegrierende Verfahren (Streuverfahren) gegeben.
Die Terminologie und Messprozeduren werden aber nur für die mechanische Kontaktprofilometrie
beschrieben. Für alle anderen Verfahren gibt es in diesem Dokument noch keine Beschreibung. Die
Messtechniken für die Flächenprofilierung werden ebenfalls nur sehr kurz erläutert. Weiterhin werden
Angaben zur Methodik der Filterung von Oberflächenprofilen, der Präzision von Referenzproben und
Rauheitsvergleichsproben gemacht.
Informationen zu bisher nicht genormten optischen Verfahren (Zwei- und Mehrstrahlinterferometer,
differentieller Interferenzkontrast (Normarski-Kontrast), differentielle Interferometrie, fokussierende
optische Systeme), elektronenoptischen Verfahren (TEM, SEM) und zu scannenden Systemen
(STM, AFM) werden gegeben.

In ANSI/ASME B 46.1 (2002-00-00) sollen 3 Kapitel und ein Anhang überarbeitet worden sein. Das
Dokument steht aber zur Zeit noch nicht zur Verfügung.

''(ev. unaktuell...)''